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GK-ECBS-F8分立器件综合老化试验系统
适用于各种封装（包括表面贴装）形式的中、小功率二极管、三极管、场效应管、可控硅、集成稳压器、光电耦合器、电阻等元器件的稳态寿命试验（CFOL）和间歇寿命试验（IFOL）和功率老炼筛选。
技术特点：
①一板一区，可满足16种不同试验参数的器件同时老化。
②被试器件DUT老化电源采用智能程控方式供给，极性自动转换；
③数据库加载导入，自动完成试验过程，方便操作使用。
④完善、标准的老化器件库及各种老化板，解决了用户的后顾之忧。
heating
高温加热
内部加热 保持不坏
真金不怕火炼，超强耐高温
超级耐高温
保持高品质
内部加热原理
服务热线
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